Semiconducteur
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From materials development to production test and monitoring, Keithley is the leader in semiconductor test solutions you can trust. In the development lab, Keithley semiconductor characterization systems provide unmatched sensitivity and flexibility for investigating material properties, describing device attributes, and qualifying new designs. Keithley is also at the leading edge of automated parametric test technology for production process monitoring, and has pioneered many innovations that shorten test cycles and lower the cost of test. Examples are APT systems that provide parallel DC and RF measurements with a single probe insertion and semiconductor characterization system software and GUIs that provide test sequences and results with a few mouse clicks. Keithley systems are also designed for maximum equipment reuse as test needs change, and for easy interfacing to a wide variety of other equipment, such as parts handlers, high speed switches, and signal sources for specialized testing. To learn more about Keithley’s semiconductor test systems, click on the links below.
- Select One
- Caractérisation du produit
- Test fonctionnel
- Matériaux recherche
- Contrôle de process
- Solutions de test de fiabilité
- Caractérisation du produit
- Focus Solutions
- Condensateurs - Capacité, charge, courant faible, tension disruptive
- Modélisation des dispositifs - Acquisition de données et extraction de paramètres
- Diodes - Tension disruptive forte, courbes courant-tension
- Dispositifs nanoélectroniques - Caractérisation C-V
- Dispositifs nanoélectroniques - Mesures faible résistance
- Dispositifs nanoélectroniques - Courbes I-V électroniques moléculaires et nanoélectroniques
- Résistances - Dynamique étendue, grande précision des essais, mesures rapides
- Transistors - Mesures C-V et I-V
- Test fonctionnel
- Focus Solutions
- Essai fonctionnel à volume réduit, souple et personnalisé - Liste de séquence de test, sanction rapide, stockage/tri, radiofréquence
- IDDQ (systèmes sur puce et autres dispositifs hautement intégrés) - Tension de source, courant faible de mesure
- Circuits intégrés optiques et émetteurs-récepteurs - Tension de source, intensité de mesure ; Intensité de source, tension de mesure
- Transistors - Mesures C-V et I-V
- Matériaux recherche
- Focus Solutions
- Matériaux d'interconnexion/conducteur - Mesures courant faible
- Matériaux d'interconnexion/conducteur - Mesures faible résistance et capacité
- Matériaux diélectriques - Courant faible, tension disruptive, caractérisation de la charge
- Isolants - Mesures de résistance élevée
- Semi-conducteurs - Mesures de la résistivité
- Semiconducteurs - Test de fiabilité sous contraintes
- Supraconducteurs - Mesures rapides à faible bruit des faibles résistances
- Contrôle de process
- Focus Solutions
- Réception tranche terminale - Transistors (Vt), diodes, condensateurs, résistances, temps de propagation
- Qualification des équipements - Fréquence des défauts
- Porte/poly - MOSCAP GOI, ECD, Vt
- Métal-2 - Contrôle des contacts, électromigration, EWR
- Nouvelles technologies - HF/CC, SOC, FeRAM, MRAMS, LCD-TEG
- Solutions de test de fiabilité
- Focus Solutions
- Essais de contraintes accélérées (AST) - Alimentation source, contrôle de température, mesure d'équipements multiples
- Paramètres d'environnement laboratoire log et moniteur - Mesure de température et d'humidité, communication à distance/répartie, longue durée de vie
- Essais d'assurance qualité (QAT) - Blocs modulaires pour des solutions personnalisées, pilotes pour contrôle et communication
- Dégradation support niveau tranche - Grande précision, faible bruit, capacité à mettre sous contrainte plusieurs transistors en parallèle et à mesurer de petites dégradations