Publications Récentes

Keithley propose gratuitement un CD sur les supports de tests pour la nanotechnologie
Cleveland, Ohio, 13 juillet 2010 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure propose un CD avec un nouveau recueil de tests pour la nanotechnologie.

Keithley vient de publier sur CD, une bibliothèque technique sur les multimètres numériques
Cleveland, Ohio, mars 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure vient de publier une bibliothèque technique sur les multimètres numériques (DMM) à l'intention des ingénieurs et chercheurs qui utilisent des DMM pour une grande diversité d'applications.

Keithley vient de publier son nouveau catalogue 2010 pour ses produits de test et mesure, sur CD
Cleveland, Ohio, mars 2010 * * * Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques avancés et les systèmes de mesure annonce l'édition sur CD de son nouveau catalogue 2010.

Le système de mesure courant-tension ultra rapide de Keithley rassemble en un seul châssis trois fonctionnalités essentielles pour la caractérisation
Cleveland, Ohio, 18 février, 2010 * * * Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques et systèmes de mesure avancés annonce un nouveau système de mesure, le modèle 4225-PMU qui est un module ultra rapide pour les mesures I-V. Ce modèle est le dernier apport à la famille toujours croissante des options d'instrumentation pour le système de caractérisation des semi-conducteurs, le modèle Model 4200-SCS.

LeCroy choisit le commutateur RF/UHF de Keithley pour sa Suite de test ultra-rapide USB 3.0
Cleveland, Ohio, 3 février, 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les tests électriques et systèmes de mesure avancés annonce que LeCroy Corporation qui est l'un des leaders pour la production de systèmes de test sur les données sérielles a choisi le commutateur RF/UHF, S46, de Keithley comme partie intégrante et innovante de sa nouvelle Suite USB 3.0.

Keithley étend la compatibilité des Instruments Source-Mesure DC avec la nouvelle version de son logiciel ACS Basic Edition
Cleveland, Ohio, septembre 2009 * * * Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les systèmes et les instruments de test électriques avancés, annonce une extension de la compatibilité des instruments Source-Mesure (SMU) avec une nouvelle version de son logiciel ACS Basic Edition.

Une nouvelle carte de commutation matricielle à relais reed rapides au format de 6x16 vient s'ajouter à la famille des multimètres multiplexés de la série 3700
Cleveland, Ohio, 6 juillet 2009－Keithley Instruments, Inc. l'un des leaders mondiaux pour les systèmes et les instruments de test électriques avancés, annonce une nouvelle carte de commutation à relais reed rapides. Cette carte enfichable, modèle 3731, est une matrice de 6x16, qui vient s'ajouter à la série 3700 des multimètres multiplexés et des autres cartes enfichables.

Keithley propose une boîte à outils graphiques gratuite avec son système multimètre commuté par micro-logiciel, série 3700, pour "un premier aperçu " sur les données acquises
Cleveland, Ohio, juin 2009

Dans un séminaire technique gratuit sur le Web, Keithley explore les mesures électriques sur les composants photovoltaïques et les cellules solaires
Cleveland, Ohio, 11 mai 2009 * * * Keithley Instruments, Inc., l'un des leaders mondiaux pour les systèmes et instruments de test avancés va organiser sur le web un séminaire intitulé "Mesures photovoltaïques: Test des propriétés électriques des cellules solaires d'aujourd'hui" en anglais. Ce séminaire est prévu sur le web le mercredi 27 mai 2009. Sa durée sera de une heure. Il vous proposera un aperçu sur les mesures électriques utilisées pour le développement des composants photovoltaïques, directement issues de la recherche fondamentale et applicables aux tests en production.

Cycle des séminaires de Keithley en France
Ce cycle de conférences techniques traite des innovations en matière de test et de mesure dans les communications RF sans fil, de la nanotechnologie et des systèmes électroniques.

White Paper von Keithley beschreibt die Herausforderungen bei der Halbleiter-Charakterisierung und bei Parameter-Tests
Beschleunigung und Vereinfachung des Testaufbaus von Charakterisierungs-Systemen

Keithley propose un seul câblage pour l'interconnexion de divers signaux issus des sondes des semi-conducteurs avec l'équipement de caractérisation
Cleveland, Ohio, Mars 2009 * * * Keithley Instruments

Keithley étend son modèle 4200-SCS au test des cellules solaires, avec une gamme de fréquences C-V accrue et le rend compatible avec un châssis à neuf emplacements
Cleveland, Ohio, Mars 2009 * * * Keithley Instruments,

Keithley fait une offre promotionnelle sur ses instruments de test et de mesure à des prix très attractifs
Validité de cette offre limitée au 31 mai 2009

Keithley annonce son nouveau guide 2009 des instruments de mesure et de test
Cleveland, Ohio, Février 2009

Keithley et Azimuth Systems mettent en commun leurs efforts pour créer des solutions de test LTE, WiMAX RF
Cleveland, Ohio et Acton, Massachusetts, Juin 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants en matière de systèmes de mesure, annonce un effort conjoint avec Azimuth Systems, un fournisseur de premier plan d'équipements de test à large bande sans fil et d'émulateurs de canaux pour WiMAX, 4G, et Wi-Fi (Acton, MA).

Keithley vient d'éditer sur CD un nouveau guide pour les instruments du type générateur/mesure de précision
Cleveland, Ohio, juin 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leader mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce la mise à la disposition d'un CD intitulé: Precision Sourcing and Measurement Resource Guide (Guide des instruments dotés des fonctions générateurs/mesure de précision).

Robert G. Fulks a reçu le prix Joseph F. Keithley IEEE 2008 pour ses contributions remarquables dans le domaine de la mesure électrique
Cleveland, Ohio, juin 2008 * * * L'Institut des Ingénieurs en Electronique et Electricité (IEEE) annonce qu'il vient de décerner le prix Joseph Keithley IEEE 2008 à Robert G. Fulks pour ses contributions remarquables dans le domaine de l'instrumentation électrique et de la mesure.

Keithley annonce une nouvelle édition de son manuel de commutation
Cleveland, Ohio, Mai 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure vient de publier sa sixième édition du manuel Switching Handbook : A Guide to Signal Switching in Automated Test Systems (Guide pour la commutation du signal dans les systèmes de test automatisés).

Le logiciel de test de caractérisation automatisé (ACS) effectue maintenant le test de fiabilité sur wafer 5 fois plus rapidement
Cleveland, Ohio, Mai 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leader mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure vient de renforcer son logiciel de Caractérisation Automatisée (ACS) avec l’option de test de fiabilité sur wafer (WLR) ; ces tests portent sur la fiabilité des semi-conducteurs et la prédiction de leur durée de vie.

Keithley propose un CD pour les applications de test sur les composants semi-conducteurs
Cleveland, Ohio, Mai 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leader mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce la mise à la disposition d'un CD intitulé : Semi-conductor Device Test Applications Guide (Guide des Applications de Test sur les Composants semi-conducteurs).

Keithley annonce un accord de partenariat avec la société Stratosphere Solutions pour permettre un Processus de Caractérisation Avancé dans le domaine sub-65 nm
Cleveland, Ohio, février 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce un accord de partenariat avec la société Stratosphere Solutions, Inc. qui est un fournisseur de solutions pour l'amélioration des cadences de test paramétrique à l'usage des fabricants de circuits intégrés.

La nouvelle version 3.2 du logiciel ACS apporte de nouvelles fonctionnalités pour le test en parallèle et le tri paramétrique avec une cadence encore plus rapide
Cleveland Ohio Janvier 2008 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la commercialisation de la nouvelle version 3.2 du logiciel ACS (Suite pour l'Automatisation de la Caractérisation).

Le Centre allemand de métrologie de Keithley rejoint la Liste des Laboratoires accrédités ISO 17025
Cleveland, Ohio, Germering, Allemagne, octobre 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce aujourd'hui que l'Association Américaine d'Accréditation des Laboratoires (A2LA) vient de reconnaître le Centre Allemand de Métrologie de Keithley comme étant conforme aux normes ISO/IEC 17025:2005, qui est le système de normes le plus important en métrologie pour le test et la mesure en production.

Keithley rend le test C-V/I-V à impulsion plus rapide, plus simple et encore plus économique avec le nouveau module C-V intégré et le logiciel pour le 4200-SCS, leader actuellement sur le marché
Cleveland, Ohio, SEMICON Europa, Stuttgart, octobre 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce un nouvel instrument de mesure C-V pour être incorporé à son puissant système de caractérisation des semi-conducteurs, le modèle 4200-SCS.

Keithley et CNSI annoncent un partenariat pour la mesure en nanotechnologie
Cleveland, Ohio, Septembre 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce un nouveau partenariat avec le California Nanosystems Institute (Institut de recherche sur les nanosystèmes de Californie), basé à UCLA.

Keithley Instruments: Une nouvelle fonctionnalité de mesure de courants bas niveau pour sa ligne de produits Sourcemeter®
Cleveland, Ohio, Septembre 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce deux nouvelles innovations pour sa ligne d'instruments Sourcemeter®, Série 2600, ce qui va porter cette ligne au plus haut niveau des produits industriels avancés pour un prix attractif dans le domaine de l'analyse paramétrique et du test des semi-conducteurs.

Keithley annonce une nouvelle plate forme de commutation du signal à cadence élevée, LXI Classe B et, en option, un multimètre numérique intégré de haute performance
Cleveland, Ohio, Septembre 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la commercialisation d'un système de commutation associé à un multimètre numérique, série 3700 avec une famille de cartes enfichables.

Keithley annonce des systèmes de test paramétrique basés sur Linux
Cleveland, Ohio, juillet 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce tout un ensemble d'améliorations sur ses systèmes de test paramétriques de la série S600.

Keithley annonce la commercialisation d'une carte sonde paramétrique avancée
Cleveland, Ohio, juillet 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce qu'il vient de qualifier la société FormFactor Inc.

Keithley annonce un partenariat de développement avec le LETI du CEA pour la recherche avancée sur les matériaux utilisés en nanotechnologie et les semi-conducteurs
Cleveland, Ohio, Grenoble, France, juillet 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce un partenariat de développement avec le LETI du CEA Grenoble concernant la technologie de test des matériaux pour les composants et semi-conducteurs.

Keithley Instruments reconnu pour son excellence par Texas Instruments
Cleveland, Ohio, juillet 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), l'un des leaders mondiaux des solutions pour les besoins de mesure émergeants a annoncé avoir reçu le Supplier Excellence Award de Texas Instruments (TI) 2006.

Keithley lance des nouveaux systèmes de test intégrés, plus rapides et plus faciles à utiliser pour les semi-conducteurs
Cleveland, Ohio, Avril 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce le lancement d'une Suite de systèmes de Caractérisation Automatisés, ACS. Ces systèmes sont intégrés et destinés à la caractérisation des semi-conducteurs au niveau du composant, du chip et de la cassette.

Keithley annonce une nouvelle édition de son manuel Nanotechnology Measurement Handbook (mesures en nanotechnologie)
Cleveland, Ohio, Avril 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la publication d'un nouveau manuel de 124 pages sur les mesures en nanotechnologie.

Keithley annonce de nouvelles fonctionnalités pour les mesures en modes à impulsion et I-V pulsé, destinées aux tests avancés sur les semi-conducteurs
Cleveland, Ohio, Avril 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce ses toutes dernières versions, matériel et logiciel ainsi que le prix décerné à son système de caractérisation des semi-conducteurs, modèle 4200-SCS ; ces nouvelles versions portent à la fois sur le matériel et le logiciel.

Keithley publie un nouveau manuel pour l'acquisition de données, les mesures et le contrôle
Cleveland, Ohio, Mars 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure vient de publier un nouveau manuel intitulé : “Understanding New Developments in Data Acquisition, Measurement, and Control.”

Keithley reconnu comme le meilleur fournisseur dans l'industrie des semi-conducteurs
Cleveland, Ohio, Février 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, vient d'être reconnu par VLSI Research Inc comme le meilleur fournisseur de l'industrie des semi-conducteurs pour la satisfaction des clients.

Keithley annonce un manuel sur le test paramétrique en parallèle
Cleveland, Ohio, Février 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, vient d'éditer un nouveau manuel intitulé Parallel Test Technology: The new Paradigm for Parametric Testing.

Keithley annonce une nouvelle interface GPIB complète et économique
Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce la commercialisation du modèle KPCI-488LP qui est un contrôleur GPIB se présentant sous forme d'une carte interface enfichable.

Keithley et Mesatronic signent un accord d'avancement sur la technologie paramétrique des sondes de chips.
Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce la signature d'un partenariat avec le groupe Mesatronic (Voiron France) pour développer des cartes de sondes avancées destinées aux systèmes de tests paramétriques des semi-conducteurs.

Keithley Annonce une Nouvelle Version de Logiciel de Test pour une Amélioration des Mesures Pulsées
Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la version KTE interactive V6.1 qui est une mise à jour de son puissant logiciel de mesure KTEI. (Keithley Test Environnent Interactive) utilisé avec son Modèle 4200-SCS, système de caractérisation des semi-conducteurs.

Keithley commercialise les produits PXI pour les bancs de test hybrides orientés production
Cleveland, Ohio, electronica, Munich, Novembre 14, 2006 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce une nouvelle ligne de produits PXI prévue pour le test automatisé en production.

Le Département de Métrologie de Keithley reçoit l'accréditation des normes ISO 17025
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce que le Groupe qui rassemble ses Départements de Métrologie est maintenant accrédité ISO/IEC 1725:2005. Ces normes sont les seules et les plus importantes pour la mesure et le test. Elles ont été établies par l'A2LA (American Association for Laboratory Accreditation).

Keithley Annonce Une Nouvelle Ligne De Générateurs D'impulsions Et De Modèles
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce une nouvelle ligne de générateurs d'impulsions et de modèles, la série 3400.

Keithley étend sa gamme de SMU qui devient le système industriel le plus rapide, le plus miniaturisé et le plus abordable
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce deux nouveaux produits qui s'ajoutent aux éléments de la série 2600 des Sourcemeter®. Les nouveaux modèles 2600 et 2612 viennent enrichir la série révolutionnaire des générateurs/mesureurs (SMU) commercialisée l'an dernier; ils étendent la gamme de tensions et de courants mesurables et permettent un abaissement significatif des coûts de test sur une grande variété de composants électroniques

Keitley annonce une nouvelle édition de son Guide de Commutation
l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce la 5ème édition de son Guide de Commutation. Ce manuel de 190 pages couvre les bases fondamentales de la fonction de commutation tant pour le test que pour la mesure. Il est fourni gratuitement : www.keithley.info/SwitchHandbook.

Keithley joue un rôle de premier plan dans les nouvelles normes de test IEEE pour les tubes au carbone
Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce un nouveau système pour la caractérisation des semi-conducteurs, le modèle 4200, conforme et compatible avec les normes IEEE qui viennent d'être publiées, pour les tests. des nanotubes en carbone. Les nomes IEEE 1650™ -2005 récemment approuvées et connues sous la dénomination de : "Méthodes standard pour la mesure des propriétés électriques des nanotubes en carbone" apportent au développement bouillonnant de l'industrie de la nanotechnique un outil commun et recommandé pour obtenir des résultats de test à partir de procédures communes, permettant ainsi d'évaluer les propriétés électriques de ceux-ci.

Keithley ouvre de nouveaux bureaux en Asie afin d'assurer une meilleure efficacité des applications locales et un support de proximité au client
Cleveland, Ohio, Octobre 2005 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, annonce une extension significative de son chiffre d'affaire dans le sud est asiatique et procède à l'extension de son bureau de Singapour et ouvre deux autres points de vente directes en Malaisie avec un support technique pour la mise en oeuvre des tests électriques et des mesures.

Le catalogue 2006 des instruments de test et de mesure de Keithley est disponible
Cleveland, Ohio, Janvier 2006 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure, vient de publier son catalogue 2006 intitulé: Test and Measurement Products. Ce guide de référence qui doit toujours être à portée de la main donne les détails et spécifications dont on peut avoir besoin sur tous les produits d'usage général, générateurs sensibles, mesure, commutation DC , commutation et mesure en HF, acquisition de données, systèmes de test des semi-conducteurs et matériel de test des circuits optoélectroniques. Ce catalogue est doté de supports qui facilitent les choix pour des applications spécifiques.

Keithley annonce un nouveau système de test de fiabilité des semi-conducteurs au noeud de 65 nm et au-delà
Cleveland, Ohio, Avril 2005 - Keithley instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce un nouveau système de test de fiabilité des semi-conducteurs, le S510.

Keithley annonce la commercialisation d'une nouvelle famille d'acquisition
Cleveland, Ohio, Mars 2005 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesure dans les besoins émergeants annonce la commercialisation de la série KUSB-3100, qui est une nouvelle famille de modules pour l'acquisition de données sous USB.

Hynix vient de commander plusieurs autres systèmes de test de semi-conducteurs S860 DC/RF à Keithley Instruments pour un montant de plusieurs millions de dollars pour sa production de chips de 300mm
Cleveland, Ohio, Mars 2005 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesure dans les besoins émergeants annonce qu'il vient de recevoir de Hynix Semiconductor Inc. une nouvelle commande de son Système de test paramétrique S860 DC/RF pour un montant de plusieurs millions de dollars. Hynix est l'un des leaders Coréens dans ce domaine et l'un des plus gros fabricants mondiaux de DRAM (mémoires à accès direct aléatoire dynamique).

Keithley annonce le générateur/mesureur le plus rapide, le plus compact et
Cleveland, Ohio, Mars 2005 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesure dans les besoins émergeants annonce une nouvelle série de générateurs, de la famille des Sourcemeters , la série 2600.

Keithley Instruments annonce sa troisième génération de mesures HF sur les
Cleveland, Ohio, Mars 2005 - Keithley, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce sa troisième génération de fonctionnalités de mesures HF sur les chips de semi-conducteurs.

Keithley étend sa ligne de produits de commutation en proposant un système en demi rack de haute densité
Cleveland, Ohio, Janvier 2005 - Keithley l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesure dans les besoins émergeants annonce un nouveau système de commutation haute densité, le modèle 7002-HD qui se compose d'un châssis et de 2 cartes pour un prix de 40% inférieur à celui ,des plates-formes existantes comparables.

Keithley annonce la disponibilité d'un CD d'assistance pour les tests de fiabilité sur les composants semi-conducteurs.
Cleveland, Ohio, Janvier 2005 - Cleveland, Ohio, Janvier 2005 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce la disponibilité d'un CD d'assistance interactif sur les tests de fiabilité, destiné aux ingénieurs de contrôle en production des semi-conducteurs.

Keithley annonce son nouveau catalogue 2005 pour le test et la mesure
Cleveland, Ohio, Janvier 2005 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce la parution de son nouveau catalogue 2005 qui rassemble tous ses produits de test et mesure.

Keithley annonce un adaptateur d'interface USB/GPIB
Cleveland, Ohio, Octobre 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants annonce le KUSB-488, qui est un adaptateur d'interface USB vers le GPIB. Cet adaptateur a pour but d'assurer la pleine compatibilité de tout ordinateur possédant un port USB en un contrôleur IEEE-488.2 capable de commander 14 instruments programmables et compatibles GPIB.

Le manuel de mesures bas niveau a été mis a jour et propose une assistance sur la manière de faire des mesures sensibles et de haute précision
Cleveland, Ohio, Octobre 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les solutions de mesures dans les domaines émergeants vient de publier une version mise à jour de sa brochure "Low Level Measurement Handbook: Precision DC Current, Voltage and Resistance Measurements".

Barbara V. Scherer rejoind les dirigeants de Keithley
Cleveland, Ohio, Septembre 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), a leader in solutions for emerging measurement needs, today announced that Barbara V. Scherer has been appointed to the Company's Board of Directors.

Keithley Instruments vient de recevoir une commande pour plusieurs Systemes de Test Parametrique S680 d'une societe leader coreenne
Cleveland, Ohio, Septembre 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux dans le domaine des systèmes et instruments de mesure avancés annonce une commande de plusieurs systèmes de test paramétrique S680 DC/RF par une société coréenne, leader dans son domaine.

Keithley commercialise un nouveau système de test de galettes "prêt à l'emploi" pour des noeuds de 130nm et au delà
Cleveland, OH - Juillet 14, 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux de solutions innovantes pour la mesure vient de développer un système de test paramétrique "prêt à l'emploi" pour un rapport prix par broche / performances inégalé à ce jour. Il s'agit en fait d'une optimisation du système de test paramétrique S470 pour le test en production de galettes de 200 mm à des nœuds de 130 nm en CMOS et au delà.

Keithley lance le nanovoltmètre, modèle 2182A pour éliminer le bruit dans les mesures de tension bas niveau
Cleveland, OH - Juillet 14, 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux dans le domaine des systèmes et instruments de test électriques avancés annonce la commercialisation de son nanovoltmètre, modèle 2182A.

Keithley commercialise des generateurs de courant de precision DC et AC/DC
Cleveland, OH - Juillet 14, 2004 - Keithley Instruments, un des leaders mondiaux des systèmes et instruments de test électriques avancés, annonce la commercialisation de son modèle 6221 AC et DC, qui est un générateur de courant continu et alternatif ainsi que le modèle 6220 DC en continu seulement.

Un CD gratuit de Keithley avec une compilation sur les différentes méthodes de faire des mesures
Cleveland, OH - Mars 25, 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les instruments et les systèmes de test avancés vient d'annoncer la compilation sur un CD de ses séminaires sur les méthodes de mesures. Ce CD dénommé Making Measurements with Confidence est gratuit.

Keithley Instruments annonce un partenariat avec le Centre Albany Nanotech SUNY
Cleveland, OH - Février 3, 2004 - Keithley Instruments, leader de pointe pour les nouveaux besoins qui se font jour aujourd'hui dans la mesure, annonce un nouveau partenariat avec le Centre Albany Nano Tech de l'université d'Albany SUNY (State University of New York).

Un nouveau systeme de Test de Wafers de 300mm: Meme Temps de Test Que Pour 200mm
Cleveland, Ohio, Janvier 2004 - Keithley Instruments annonce la sortie de son dernier modèle, le S680DC/RF, qui est une extension de la série S680 pour le test paramétrique. Ce nouveau modèle permet de contrôler des wafers de 300 mm dans le même temps que ceux de 200 mm, grâce au nouveau logiciel de test en parallèle SimulTestT optionnel (breveté) qui permet de mesurer jusqu'à 9 composants simultanément en une seule passe avec le prober.

Le Système de Caractérisation des Semi-Conducteurs, Modèle 4200-SCS, incorpore les Mesures de Contrainte et les Tests de Fiabilité avec le Logiciel KTEI 5.0
Cleveland, Ohio, Janvier 2004 - Keithley Instruments annonce la commercialisation du modèle 4200-SCS pour la caractérisation des semi-conducteurs auquel est adjoint le logiciel de test d'environnement interactif intégré, KTE version 5.0.

Nuove Schede per il Sistema di Test I-V Mod. 4500-MTS
Cleveland, Ohio, Janvier 2004 - Keithley Instruments annonce la commercialisation de nouvelles cartes de test multivoie, fonctionnant en générateur et mesureur. Ces cartes, modèle 4500-MTS, constituent une avancée remarquable tant pour l'élargissement des gammes de mesure que pour les systèmes de test I-V.