Cleveland, Ohio, Mars 2009 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les instruments de test électriques avancés et les systèmes de mesure annonce un grand nombre d'améliorations sur le hardware, le micro-logiciel et le logiciel de son système de caractérisation des semi-conducteurs, le 4200-SCS. La nouvelle version V7.2 du logiciel Keithley Test Environnement Interactive (KTEI) se compose de neuf nouvelles bibliothèques de test des cellules solaires, d'une gamme de fréquences étendue pour les mesures de capacité-tension (C-V). De plus, il est maintenant compatible avec le nouveau châssis à neuf emplacements du 4200-SCS.
Ces nouvelles bibliothèques du logiciel KTEI V7.2 étendent les caractéristiques du 4200-SCS au test des cellules solaires pour les mesures I-V, C-V et au test de résistances élevées. Ces applications deviennent de plus en plus importantes avec l'intérêt croissant qu'elles rencontrent et aussi, du fait de l'incitation gouvernementale pour les recherches sur les énergies alternatives. Cette version du logiciel est compatible avec le DLCP (Drive-Level Capacitance Profiling), qui est une technique nouvelle pour le test des cellules solaires ; en effet, avec les solutions précédentes l'obtention d'une précision acceptable était particulièrement difficile. Le DLCP permet d'obtenir des informations sur les défauts de densité de la couche mince des cellules solaires. Avec cette nouvelle version, les cartes du modèle existant 4200-CVU (capacité-tension), qui ont été commercialisées en novembre 2007, peuvent être rapidement modifiées pour être compatibles avec cette technique.
La gamme de fréquences du modèle 4200-CVU a été étendue entre 1kHz et 10MHz au lieu de 10kHz à 10MHz pour la rendre compatible avec le test DLCP. Cette extension de fréquences entraîne aussi l'élargissement du champ d'application du système qui devient alors utilisable pour le test des panneaux plats LCD et des semi-conducteurs organiques, tels que les diodes à émission de lumière (OLED).
L'intérêt continu pour les mesures I-V, en DC et impulsions et la caractérisation C-V signifie que les utilisateurs du 4200-SCS, qui ont besoin d'une souplesse de test exceptionnelle et de nouvelles fonctionnalités, sont arrivés aux limites des capacités du châssis système. Pour répondre à ce besoin, la version V7.2 prend en compte les neuf emplacements du châssis du système. Auparavant, le modèle 4200-SCS ne comportait que huit emplacements pour contenir un nombre croissant d'appareils du type : générateurs/mesure (SMU), générateurs d'impulsions, cartes de visualisation et cartes C-V. Il est maintenant possible de mettre le 4200-SCS à jour avec ces neuf emplacements ; tous les nouveaux châssis comporteront désormais neuf emplacements.
Avec la nouvelle version V7.2, Keithley a aussi incorporé le nouveau kit de câbles triaxiaux, de hautes performances, qui permet de relier le 4200-SCS aux sondes ; ce kit a été prévu pour simplifier les opérations de changement de configuration pour les mesures DC I-V, C-V et par impulsions. Avec ce nouveau câble, il n'est plus besoin de refaire le câblage pour passer d'un type de mesure à l'autre, ce qui permet d'éviter des erreurs provenant d'un câblage incorrect. Deux versions de ce kit sont disponibles : l'un pour les sondes Cascade Microtech et l'autre pour les sondes SUSS Microtec.
Des améliorations futures sur le système assureront une productivité accrue
Le modèle 4200-SCS réunit une grande diversité d'outils de test électriques en un seul système de caractérisation, étroitement intégré qui trouve une application particulièrement bien adaptée dans de nombreux domaines, tels que le développement de la technologie des semi-conducteurs, le développement de processus et la recherche sur les matériaux dans les labos de fiabilité, les labos de recherche sur les matériaux et les composants et autres domaines, aussi bien que ceux qui requièrent des instruments portables en DC ou en impulsions. Keithley n'a jamais cessé d'améliorer le matériel et le logiciel du 4200-SCS depuis sa commercialisation. Cet engagement sur les évolutions futures de ce système assure une mise à jour particulièrement économique car, avec cette politique, l'utilisateur n'a plus à remplacer son ancien système d'analyse paramétrique devenu obsolète par un nouveau. Au contraire, son système est mis à jour à moindre coût pour satisfaire aux exigences de l'évolution des tests industriels. De cette façon les investissements sur les extensions du 4200-SCS sont plus faibles que pour les autres systèmes de la concurrence.
Keithley Instruments qui est un leader pour la caractérisation des semi-conducteurs et du test paramétrique propose à ses clients du monde entier une grande diversité de solutions particulièrement souples à la fois pour les mesures du type I-V (courant/tension), C-V (capacité-tension) et I-V par impulsions. Ces produits s'étagent des instruments portables aux systèmes clé-en-main. Ils sont utilisés dans des domaines aussi divers que l'analyse de matériaux, la caractérisation des composants, la fiabilité au niveau du chip et la surveillance du processus de contrôle. Keithley travaille en étroite coopération avec ses clients de semi-conducteurs dans le monde entier par l'intermédiaire de son réseau d'agences d'assistance technique et nos ingénieurs d'application ont une expertise spécifique dans le domaine de la technologie des semi-conducteurs.
Disponibilité
La version 7.2 du logiciel KTEI est disponible gratuitement pour les utilisateurs du modèle 4200-SCs existant. Cependant, l'étalonnage de la nouvelle version du 4210-CVU et la mise à niveau du 4200-SCS existant pour les neuf emplacements ne sont pas gratuits.
Pour plus d'informations sur ce logiciel KTEI V7.2 ou pour toute autres informations sur nos solutions de test des semi-conducteurs, allez sur notre site : www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS ou contactez votre distributeur Keithley habituel.
Keithley Instruments
Avec ses 60 années d'expertise en matière de mesures, Keithley Instruments est devenu un leader mondial dans le domaine des instruments et systèmes de mesures électriques avancées, dans une gamme allant du continu à la RF (radiofréquences).Nos produits permettent de trouver la solution aux besoins émergeants en matière de test, de surveillance de processus, de développements de produits et de la recherche. Nos clients sont des scientifiques et des ingénieurs dans le monde entier travaillant dans le domaine de l'industrie électronique et engagés dans la recherche avancée sur les matériaux, la caractérisation des semi-conducteurs et des chips sans oublier le test en production de produits tels que les ensembles électroniques ou les portables. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est à la fois une technologie de mesure de précision alliée à un plein entendement de leurs applications afin d'améliorer la qualité et le rendement de leurs produits.
