Keithley annonce de nouvelles fonctionnalités pour les mesures en modes à impulsion et I-V pulsé, destinées aux tests avancés sur les semi-conducteurs

Cleveland,Ohio, Avril 2007 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce ses toutes dernières versions, matériel et logiciel ainsi que le prix décerné à son système de caractérisation des semi-conducteurs, modèle 4200-SCS ; ces nouvelles versions portent à la fois sur le matériel et le logiciel. Elles constituent une avancée dans les possibilités qu'offre le mode à impulsion du système 4200-SCS. Le modèle de laboratoire est équipé maintenant de fonctionnalités de mesures en DC et à impulsion, étroitement intégrées et accompagnées de logiciels d'application exhaustifs permettant ainsi d'offrir des solutions clé en main. Un générateur d'impulsions et une visualisation améliorés, tous deux sous forme de carte, offrent un puissant dispositif aux chercheurs qui travaillent sur les découpes des semi-conducteurs et pour la production. Ceci constitue des avancées significatives pour le système 4200-SCS qui vient d'être distingué par un prix à la fois pour ses matériel et logiciel, particulièrement souples et qui l'ont introduit dans des domaines nouveaux tels que le test des mémoires flash, des composants de forte puissance RF et des tests en impulsions pour les semi-conducteurs avancés. Pour plus d'informations, visitez notre site: http://www.keithley.com/pr/069.

Matériel de test plus performant
La nouvelle solution proposée par Keithley comporte des améliorations significatives sur le matériel. En effet, une nouvelle carte générateur d'impulsions, modèle 4205-PG2, dispose de plusieurs fonctionnalités inédites telles que le mode Segment ARB™ pour lequel un brevet a été déposé. Ce mode permet de produire très aisément des signaux de forme complexe à partir de segments à impulsions de base. Cette fonctionnalité est essentielle pour le test des mémoires flash qui nécessitent des modèles de signaux complexes pour la caractérisation et la durée de vie des cellules mémoire. Le modèle 4205-PG2 est également livré avec un générateur de formes d'onde arbitraires ou mode ARB et dispose d'un relais de sortie intégré à durée de vie pratiquement illimitée. Ce relais peut être commandé très facilement et élimine les relais externes qui sont généralement nécessaires pour le test des mémoires flash car il raccourcît notablement la durée des tests d'endurance.

De plus, une nouvelle alimentation permet d'accroître dans une large mesure les configurations possibles du système 4200-SCS. Ce modèle est maintenant disponible en châssis et accepte 4 cartes générateurs d'impulsions distinctes par châssis. Equipé de ces 4 cartes 4205-PG2 à deux voies, le système 4200-SCS peut alors disposer de 8 voies à impulsion par châssis. Qui plus est, le 4205-PG2 intégré est équipé d'une entrée pour un déclenchement externe, ce qui permet à plusieurs cartes logées dans un même châssis d'être synchronisées à moins de 10 ns l'une par rapport à l'autre.

Solutions proposées pour la problématique de la technologie des bords de découpe
Les solutions proposées par Keithley sont intégrées dans la nouvelle carte, 4205-PG2 ainsi que le logiciel pour ces nouvelles applications. L'ensemble 4200-PIV-Q a été conçu pour les tests I-V en impulsions les plus performants ainsi que pour l'analyse du signal sur les composants RF et les FET de forte puissance élaborés à partir de technologies telles que les matériaux III-V et LDMOS. Simple d'utilisation et particulièrement souple, le modèle 4200-PIV-Q dispose de fonctionnalités pulsées capables de fournir des impulsions de ±38V, 800 mA et d'assurer une puissance de 30W. Ces paramètres ont été étudiés pour les applications de forte puissance. Une caractéristique-clé du modèle 4200-PIV-Q est le point de repos (ou point Q), qui permet des impulsions partant d'un point de repos différent de zéro dans une gamme de durées allant de 500 ns au continu (DC).

Autre solution nouvelle : L'ensemble 4200-FLASH qui permet un test puissant des mémoires flash "out-of-the-box". Cet ensemble effectue les trois types de test les plus importants pour les mémoires flash qui sont : la caractérisation, le test d'endurance et test de perturbations. Il gère automatiquement les commutations entre le test DC et le test par impulsions sans qu'aucun dispositif de commutation externe soit nécessaire. Le relais intégré sans usure réduit la durée du test du fait qu'il n'y a pas de relais externe comme dans la plupart des autres systèmes de test de mémoire flash, d'où une plus grande simplicité d'utilisation. De plus, des programmes spécialisés et des modèles d'applications inclus avec le 4200-FLASH simplifient le paramétrage et le démarrage du test de ces mémoires.

Parmi les autres ensembles disponibles, on trouve le modèle 4200-PIV-A. Il constitue une amélioration significative du célèbre 4200-PIV, qui lui aussi, a fait l'objet d'une distinction. Il a été conçu pour la caractérisation des composants CMOS avancés. Parmi ces améliorations, on trouve une résolution nettement supérieure pour les faibles courants pouvant atteindre 100 nA et une interface plus simple d'utilisation avec des tests combinés en continu (DC) et en impulsions ainsi que des interfaces graphiques très intuitives.

Des avancées permanentes sur le logiciel
Une nouvelle version du KTEI (Keithley Test Environment Interactive), la version V6.2, comporte un certain nombre d'améliorations du logiciel. Par exemple, la possibilité de commander le système 4200-SCS à partir d'un PC externe a été considérablement améliorée avec une nouvelle connectivité Ethernet, les appels à distance aux circuits générateurs d'impulsions et les commandes de visualisation sans oublier la possibilité de commander l'exécution à distance des tests sur carte avec les modules UTM (User Test Modules). De même, une nouvelle fonction permet une interaction de l'utilisateur avec chaque UTM par l'intermédiaire d'une interface GUI pour les applications les plus communes ; elle permet en outre, de tester les contrôleurs de matrice de commutation et les tests PIV. Une nouvelle version du KTEI, V6.2, sera utilisable prochainement en logiciel autonome qui pourra être installée sur un PC pour créer des tests et effectuer l'analyse des résultats en différé.

Nos clients actuels peuvent aisément mettre à jour toutes ces nouvelles solutions, ce qui leur permettra de faire des économies d'investissement et de dépenses, d'où un abaissement des coûts globaux.

Disponibilité
La carte générateur d'impulsions, modèle 4205-PG2, est disponible sous forme de carte "add-on" dans les nouveaux systèmes ou après mise à jour des systèmes plus anciens. Les commandes peuvent être prises dès maintenant pour une livraison postérieure au 1er mai 2007. Pour plus d'informations sur les nouveautés des matériels et logiciels du modèle 4200-SCS ou sur l'une des solutions de test des semi-conducteurs de Keithley, visitez notre site : http://www.keithley.com/pr/069 ou contactez: www.keithley.com.

A propos de Keithley

Avec ses 60 ans d'expertise dans la mesure, Keithley Instruments est devenu un leader mondial pour les instruments de test électrique et de mesure avancés et pour les systèmes allant du courant continu aux radiofréquences. Ses produits satisfont les besoins émergeants de la mesure pour le test en production, la surveillance de processus, le développement des produits et la recherche. Sa clientèle est constituée de scientifiques et d'ingénieurs dans le monde entier dans le domaine de l'industrie électronique et plus particulièrement ceux qui s'intéressent à la recherche sur les matériaux avancés, les semi-conducteurs et à la caractérisation des chips ; Keithley propose également des produits pour le contrôle en fin de chaîne de production tels que des ensembles électroniques ou des éléments portables sans fil. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est un ensemble de technologies pour la mesure de précision et une grande connaissance de leurs applications ce qui leur permet une amélioration de la qualité, de la cadence et du rendement de leurs produits.