Keithley commercialise un nouveau système de test de galettes "prêt à l'emploi" pour des noeuds de 130nm et au delà

Cleveland, OH - Juillet 14, 2004 - Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux de solutions innovantes pour la mesure vient de développer un système de test paramétrique "prêt à l'emploi" pour un rapport prix par broche / performances inégalé à ce jour. Il s'agit en fait d'une optimisation du système de test paramétrique S470 pour le test en production de galettes de 200 mm à des nœuds de 130 nm en CMOS et au delà.

Cadence de production élevée, grande précision et fiabilité

Le modèle S470 prend rapidement une part de plus en plus grande dans le domaine des mesures I-V et C-V sur les CMOS, bipolaires et les circuits à l'arséniure de gallium (GaAs), y compris l'industrie automobile, les télécoms et autres… La simplicité d'utilisation exceptionnelle de ce système renforce la valeur globale des tests qu'il réalise par une accélération et une simplification remarquables à la fois de la programmation et des opérations au jour le jour.

Une conception qui a fait ses preuves

La conception du modèle S470 est basée sur la très grande expérience de Keithley dans ce domaine et sur les testeurs de la série S400, (dont des centaines sont déjà installés dans le monde entier). Ces testeurs sont basés sur le système UNIX, irréprochable pour sa fiabilité. Ils bénéficient de ce fait d'une très large infrastructure universelle à la fois pour leur maintenance et les pièces de rechange. Le logiciel d'application est la dernière version v5.1 du KTE (Keithley Test Environnement, doté d'une interface d'exécution avec l'opérateur, qu'il partage avec les autres modèles de la série S400 ainsi et la très célèbre série des testeurs S600.

Ceci simplifie la migration des programmes de test et assure la compatibilité permettant une réutilisation maximale à la fois du matériel et du logiciel, au fur et à mesure de l'évolution et de l'extension du système. Le modèle S470 bénéficie d'une garantie de UN (1) an; d'options telles le test HF, jusqu'à 40 GHz, d'un logiciel de test adaptable permettant d'automatiser les diagnostiques de pannes de premier niveau et enfin du SECS/GEM pour l'automatisation en usine des tests sur des galettes de 200mm.

Avantages de l'application

Les testeurs paramétriques de la série S400 ont été largement utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs depuis les années 80; depuis lors, ils ont été continuellement accompagnés par Keithley tout au long de l'évolution des systèmes de façon à le faire évoluer au rythme des nouvelles technologies en perpétuelle évolution et aussi pour satisfaire les demandes des clients, pour un matériel innovant tout en conservant le capital déjà investi, c'est-à-dire pour une réutilisation maximale du matériel existant.

Avec une résolution de mesure de courants, supérieure à 10 fA, le modèle S470 constitue un choix particulièrement économique pour tester la plupart des types de composants intégrés actuels et les produits de grande production. De plus, il satisfait la demande pour une précision de mesure toujours plus grande et une reproductibilité exempte d'artefacts aléatoires, tout en conservant une haute cadence de test. Le logiciel KTE v5.1 a été le premier dans l'industrie à utiliser le test paramétrique en associant des outils puissants, tout en conservant une grande simplicité d'utilisation tant pour le développement des programmes que pour les modifications éventuelles; il permet une large étendue de mesures et une analyse des données avancée. C'est ainsi que l'ensemble de ce système constitue un équipement de test paramétrique complet.

Informations produit

Le modèle S470 est livré en configuration 24 broches, y compris l'adaptateur de la carte de sonde et son câblage, avec les connexions Kelvin aux aiguilles de la sonde. Le système de base est équipé de 4 générateurs pour les mesureurs I-V en DC, d'un mesureur de capacités ou conductances, d'un picoampèremètre et d'une unité de référence avec un logiciel d'étalonnage et de diagnostique. Le picoampèremètre peut être aiguillé sur une broche quelconque et assure une résolution de mesure meilleure que10 fA. Une commutation matricielle bas niveau et faible courant est réalisée sur des cartes similaires aux 707A et 717A bien connues et dont les temps commutation sont particulièrement rapides. Il en résulte des mesures d'une intégrité parfaite à des compatibles avec celles requises en production.

Le logiciel KTE v5.1 constitue une solide plate-forme pour le développement des tests, les choix à effectuer et l'exécution des tests. Les bibliothèques de mesure standard en CMOS et BiCMOS sont incluses et l'on peut créer de nouveaux algorithmes avec le langage de compilation C-. De même que sur tous les modèles récents de la série S400, le logiciel fonctionne sur une station de contrôle Sun et sous UNIX Solaris. La documentation de ce système est disponible sur CD-ROM. L'installation sur site ainsi qu'une année de garantie sont incluses dans l'ensemble livré.

Les options sont les suivantes:

• 4 générateurs supplémentaires pour les mesureurs I-V en DC
• Extension de 36 à 48 broches
• Option HF pour les mesures des paramètres à 40 GHz non extrapolés
• Mesureur de capacités en HF (1MHz) ou multifréquence pour la mesure de diélectriques avancés
• Générateur de tensions pulsées avec un courant de moyenne gamme pour les flashs et le pompage de charges ainsi que pour mesurer des courants jusqu'à 2A.
• Microvoltmètre pour la surveillance des processus cuivre
• Générateur d'impulsions (maximum 2, chacun étant équipé d'une ou deux voies)
• Compteur de fréquence ou analyseur de spectre pour les mesures sur des oscillateurs en anneau
• Gestionnaire Recipe Keithley pour le contrôle des versions automatisées et le fanout avec la traçabilité ISO-9000 pour les recipes
• Test adaptable pour les diagnostiques de premier niveau automatisés

Disponibilité

Les commandes sont acceptées dès maintenant avec un délai de livraison de 90 jours. Consultez Keithley pour une offre de prix système à partir des options déjà installées ou pour les possibilités d'extension à partir d'un système existant de la série S400. Pour plus d'informations sur le système de test paramétrique, modèle S470, contactez: www.keithley.com

Keithley Instruments apporte des solutions à la mesure dans des secteurs de l'industrie électronique en pleine croissance, y compris les semiconducteurs, les télécommunications, le médical et les composants. Des ingénieurs et scientifiques dans le monde entier utilisent les instruments de test de précision de Keithley, ses cartes enfichables, logiciels de surveillance de processus, tests en production et recherche fondamentale.