Keithley et Mesatronic signent un accord d'avancement sur la technologie paramétrique des sondes de chips.

Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux pour les besoins émergeants de la mesure annonce la signature d'un partenariat avec le groupe Mesatronic (Voiron France) pour développer des cartes de sondes avancées destinées aux systèmes de tests paramétriques des semi-conducteurs. Ces sondes seront utilisées dans les applications de mesures en radiofréquences et les faibles courants continus (DC). William Merkel, directeur marketing du groupe de test paramétrique de Keithley fait le constat suivant : "Lorsque les nouvelles cartes de sondes seront disponibles cette année, elles pourront être utilisées avec les systèmes de test paramétriques de Keithley pour effectuer une extraction simultanée des paramètres RF et des courants de très bas niveau DC dans une combinaison quelconque des broches de sonde en contact avec un chip semi-conducteur". Les sondes équipant ces cartes seront également utilisables pour tester les chips à partir de 30 microns, dimension vers laquelle la tendance industrielle se dirige actuellement. Aujourd'hui, la difficulté de l'exécution simultanée des mesures RF et des courants DC de très bas niveau est encore accrue par le fait que les cartes actuelles ne comportent que peu de broches spécifiques RF et qu'elles ne peuvent être utilisées pour des mesures précises de très bas niveau en DC.

La conception de la nouvelle carte de sondes RF/DC " broches indistinctes" permettra des cadences plus élevées car les mesures RF et DC pourront être faites en une seule insertion du chip. Il n'y aura donc plus besoin d'échanger les cartes de sondes ni de charger et d'aligner le chip une seconde fois. De plus, les utilisateurs des systèmes de test paramétrique RF/DC de Keithley auront la possibilité de standardiser une carte pour plusieurs applications de test de semi-conducteurs. En plus de la réduction du stock de cartes, ceci constituera aussi une prévention contre les erreurs de mesure qui peuvent se produire à la suite d'une erreur de carte lors de la mise en place du test. De ce fait, cette nouvelle technologie présente un intérêt particulier pour les constructeurs de RFIC (circuits intégrés HF), RFID (composants d'identification de radiofréquences) ainsi que pour les composants entrant dans les téléphones mobiles, les combinés des appareils fixes et l'infrastructure.

Développement issu de l'accord Keithley/Mesatronic
La clé du développement de cette nouvelle carte est la création d'un transformateur spatial qui interface la carte de sondes avec une structure de circuit à membrane souple au centre du porte sondes, précisément à l'endroit où les aiguilles sont fixées. L'expertise de Keithley dans le domaine des circuits de garde pour les mesures sensibles en RF et DC et autres technologies d'interconnexion sera mise à contribution pour créer le trajet du signal de large bande qui occasionnera la moindre perte à travers la carte ce qui est le point crucial pour sa mise en oeuvre. Du fait que toutes les géométries de connexion seront les mêmes dans cette conception, ceci devrait également contribuer à la réduction des coûts de fabrication et, par suite, bénéficier aux utilisateurs de systèmes de test paramétrique.

La technologie D.O.D. (die on die) de Mesatronic à sondage vertical sera utilisée sur ces nouvelles cartes afin d'amortir le temps de choc acceptable pour les sondes de chips de 30 microns. La technologie des sondes conventionnelles est actuellement limitée aux chips de plus de 50 microns.

Lorsque cette nouvelle carte sera connectée aux systèmes de test paramétriques de la série 2600 de Keithley, il sera alors possible de faire des mesures DC/RF sur des chips en une seule insertion avec une surveillance automatisée du processus. Ceci comprendra l'étalonnage totalement automatique en une seule passe qui sera exécuté rapidement pendant le test sans qu'aucune vérification humaine soit nécessaire. Avec ces nouvelles cartes, les utilisateurs auront la possibilité de mesurer les signaux RF et les courants de très bas niveau DC par une simple combinaison de broches en un seul changement du câblage et des pointes utilisées pour les mesures RF et DC. Ce système sera alors le seul sur le marché apportant à la fois, performances, rapidité, souplesse, simplicité d'utilisation et miniaturisation d'où une économie de temps et d'argent. Pour plus d'informations, contactez : www.keithley.com

Keithley Instruments
Avec ses 60 années d'expertise en matière de mesures, Keithley Instruments est devenu un leader mondial dans le domaine des instruments et systèmes de mesure électriques avancées, dans une gamme allant du continu à la RF (radiofréquences). Ses produits permettent de trouver la solution aux besoins émergeants en matière de test, de surveillance de processus, de développement de produits et de la recherche. Les clients de Keithley sont des scientifiques et des ingénieurs dans le monde entier travaillant dans le domaine de l'industrie électronique et engagés dans la recherche avancée sur les matériaux, la caractérisation des semi-conducteurs et des chips sans oublier le test en production de produits tels que les ensembles électroniques ou les portables. La valeur ajoutée que Keithley apporte à ses clients est à la fois une technologie assurant la précision des mesures alliée à une pleine compréhension de leurs applications afin d'améliorer la qualité, la cadence et le rendement de leurs produits.

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