Unités de Source et Mesure (SMU)

Unités de Source et Mesure et SourceMeters Courant-Tension.

Keithley était déjà un pionnier en matière de développement de SMU il y a plus de 20 ans

Aujourd'hui, nos systèmes et instruments SMU forment sept lignes de produits distinctes, conçues pour suivre le rythme de vos exigences d'essai en constante évolution.

Traceurs de courbe haute puissance

Les configurations de traceurs de courbes paramétriques

Caractérisation haute puissance 3 kV / 100 A

Pleine capacité C-V

Faible coût de démarrage et extensible si le financement le permet

Possibilité pour l'utilisateur de reconfigurer le système de test à mesure que les exigences changent

Logiciel complet pour la caractérisation facile des composants de puissance

Les tests d'applications modifiables par l'utilisateur permettent de réaliser facilement des mesures complexes

Systèmes de test paramétrique S530

Test paramétrique rapide de semiconducteurs, avec faible coût de propriété

Conçu pour les environnements de production et de laboratoire qui gèrent une large gamme de composants et de wafers

La technologie d'instrumentation SMU éprouvée garantit le haut degré de précision et la répétabilité des mesures

Instruments SourceMeter® système haute puissance série 2650A

Model 2657A High Power System SourceMeter Instrument with up to 180W of DC or pulsed power (+/-3000V@20mA, +/-1500V@120mA)

Source et mesure jusqu'à 3 kV ou 50 A en mode impulsionnel, avec la meilleure résolution faible courant de sa catégorie

Jusqu'à 2 000 W en mode impulsionnel ou 200 W en mode DC

Optimisé pour la caractérisation et l'essai des semiconducteurs haute puissance, composants électroniques et matériaux

Modèle 2657A illustré à droite. Cliquez sur l'image pour voir le reste de la série 2650A

Systèmes de test intégrés S500

Système basé sur des instruments SMU, hautement configurable et évolutif

Test de semiconducteurs avec le logiciel de caractérisation (ACS) au niveau du composant, du wafer ou de la cassette

Idéal pour le test de fiabilité au niveau du wafer (WLR) avec un SMU par broche, le test rapide en parallèle, le tri des puces et la surveillance de contrôles de processus (PCM)

Instruments SourceMeter® système série 2600B

Model 2612A Dual-channel System SourceMeter Instrument (200V, 10A Pulse)

Série de modèles à une ou deux voies avec capacité I-V de 200 V à 100 nV et de 10 A à 0,1 fA en mode impulsionnel

Technologie TSP® (processeur de script de test) pour le meilleur rendement de sa catégorie et le coût de test le plus bas

L'interface utilisateur graphique de type navigateur permet de réaliser les tests sur n'importe quel PC, de n'importe où dans le monde

Modèle 2604B illustré à droite. Cliquez sur l'image pour voir le reste de la série 2600B

Instruments SourceMeter® série 2400

Model 2401 Low Voltage SourceMeter Instrument

Série de modèles à une voie avec capacité I-V de 1 100 V à 100 nV et de 10,5 A à 1 pA en mode impulsionnel

Alternative intelligente pour séparer les alimentations et les multimètres numériques

Interface utilisateur pratique, similaire à celle d'un multimètre numérique

Modèle 2401 illustré à droite. Cliquez sur l'image pour voir le reste de la série 2400.

Analyseur paramétrique 4200-SCS

Mesures I-V, C-V et impulsionnelles intégrées en un seul système

Configuré pour répondre à tous vos besoins en matière de tests et flexible pour satisfaire aux exigences futures en constante évolution

Logiciel intuitif pour paramétrer les tests et capturer/analyser les données en toute simplicité

Modules I-V ultra-rapides synchronisés supportant les transitoires, la capture de signaux et le mode I-V pulsé

Plus de 450 tests d'applications modifiables par l'utilisateur permettant de réaliser facilement des mesures complexes

Pilotes de contrôleurs de température et de sondes

Large gamme d'unités de source et mesure (SMU) et d'alimentation de précision courant/tension

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