Nos systèmes de test supervisés par le logiciel ACS (logiciel de caractérisation automatisée) peuvent être utilisé pour des applications aussi diversifiées que le test de composants, la caractérisation de composants, les tests paramétriques et les tests de fiabilité. Développé autour des produits Keithley (dont les instruments SourceMeter séries 2600A et 2400, le système de caractérisation de semiconducteur modèle 4200-SCS, les systèmes de commutation série 700 et les systèmes de commutation / multimètres série 3700), les systèmes ACS sont idéaux pour ceux qui ont besoin d’une station de test sous pointes de wafer semi- ou entièrement automatique ultra rapide en vue d’acquérir de grandes quantités de données. Son option d’automatisation des testeurs de wafers sous pointes facilite son interfaçage avec les stations sous pointes du marché lors de son intégration dans le système.