Logiciel de caractérisation pour semiconducteur
Notre logiciel de caractérisation (ACS) offre de puissantes solutions pour automatiser la caractérisation des semiconducteurs au niveau du composant, du wafer ou de la cassette. Les équipements de test avec ACS combinent à la fois des outils interactifs de laboratoire et des outils de test pour la production. ACS Basic Edition lui est optimisé pour le test paramétrique sur banc de composants et de systèmes semiconducteurs discrets (en boîtier) et maximise ainsi la productivité des techniciens et des ingénieurs en R&D. Les systèmes de test intégrés ACS-WLR (Wafer Level Reliability – Fiabilité au niveau du wafer) permettent le calcul des prévisions de durée de vie 2 à 5 fois plus rapidement qu’avec les autres solutions de test WLR conventionnelles (développement des technologies, intégration et surveillance des process effectués plus rapidement), le tout pour gagner du temps pour la mise sur le marché.
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