Analyseurs paramètriques pour semiconducteur
Pour des tests paramétriques qui améliorent la productivité des techniciens et des ingénieurs en R&D, le système de caractérisation de semiconducteurs modèle 4200-SCS combine à la fois la caractérisation en modes DC et impulsionnel de qualité laboratoire, le traçage des courbes en temps réel et l’analyse avec une grande précision et une résolution en dessous du-femtoampère dans un système entièrement intégré. Différentes options permettent d'équipper le modèle 4200-SCS avec un module CV 4210-CVU, un module I-U ultra-rapide 4225-PMU, un module de génération d’impulsions 4220-PGU et l’amplificateur/commutateur déporté 4225-RPM. Le logiciel ACS Basic Edition de Keithley est lui optimisé pour les tests de composants et de systèmes semiconducteurs discrets (en boîtier).
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