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Logiciel de caractérisation (ACS)

Logiciel de caractérisation pour semiconducteur

Notre logiciel de caractérisation (ACS) automatise la caractérisation des semiconducteurs au niveau du composant, du wafer ou de la cassette. Combinées avec la vaste gamme d'instruments de source et mesure ou avec les systèmes de test intégrés S500 de Keithley, les solutions ACS font le lien entre les installations interactives de type laboratoire et les systèmes rapides de test en production.

ACS Édition de base

Model ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices
  • Caractérisation des composants en semiconducteur
  • Analyse des défaillances
  • Adaptation aisée aux applications des nouvelles technologies
  • Bibliothèques de centaines de tests de dispositifs standard
  • Prise en charge de toute la gamme des instruments Keithley SourceMeter et plus

Possibilité de test de la fiabilité au niveau du wafer (WLR)

Model ACS-2600-RTM Wafer Level Reliability Option to ACS
  • Interface interactive optimisée pour le test parallèle SMU par broche
  • Compatible avec la majorité des méthodes de test standard JEDEC
  • Capacité de séquençage contrainte/mesure puissante et flexible
  • Générateur de formules pour analyse des paramètres et adaptations en ligne
  • Surveillance en temps réel des résultats des tests

ACS

Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Prise en charge d'une vaste gamme d'instruments et de sondes
  • L'interface utilisateur graphique intuitive simplifie les tests I-V, les analyses et les résultats issus de testeurs paramétriques, aussi bien sur banc qu'entièrement automatisés
  • Développement et exécution de tests au niveau du composant, du site, du wafer ou de la cassette
  • Interface utilisateur graphique intuitive pour le développement de plans de test et l'utilisation interactive
  • Traçage interactif et en temps réel des données
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