Keithley Instruments Inc. - Systèmes de test paramétrique pour semiconducteur

Systèmes de test paramétrique pour semiconducteur

Les systèmes de test paramétrique Keithley S530 effectuent toutes les mesures DC et C-V requises dans le but de contrôler la qualité des process, de surveiller la fiabilité des process et de caractérisater les composants ; ils peuvent aussi être utilisés en production et dans des environnements R&D,soit un large éventail de composants et de technologies à qualifier.

Selector Guides

S530 Basic

Le testeur paramétrique entièrement automatisé le moins cher du marché

Compatible avec les porte-sondes entièrement automatisés couramment utilisés

La configuration optimise la souplesse de l'interface avec le porte-sonde

Prend en charge les bibliothèques de cartes de sondes de 5 pouces

Une technologie d'instrumentation éprouvée garantit une précision et une répétabilité de mesure élevées

S530 Haute tension

Source jusqu'à 1000 V sous 10 mA

Test de fuite et de claquage haute tension

Intégrité de mesure des faibles fuites

Mesure des courants de l'ordre du pA

SMU 20 W délivrant jusqu'à 1 A ou 200 V

Extension jusqu'à 7 SMU et 32 broches

L'adaptateur en option étend la garde par rapport à la sonde

Compatible avec les porte-sondes entièrement automatiques courants

Mesures C-V jusqu'à 1 MHz

S530 Faible courant

Mesure des courants de l'ordre du pA

Intégrité de mesure de faible courant de fuite

SMU 20 W délivrant jusqu'à 1 A ou 200 V

Extension jusqu'à 8 SMU et 60 broches

L'adaptateur en option étend la garde par rapport à la sonde

Compatible avec les porte-sondes entièrement automatisées couramment utilisés

Mesures C-V jusqu'à 1 MHz

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