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Accueil / Produits / Systèmes et logiciels de test de semiconducteurs / Solutions de test de fiabilité pour semiconducteur

Solutions de test de fiabilité pour semiconducteur
ACS pour WLR
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Interface interactive
  • Séquençage de test flexible
  • Puissant outil de contrainte/mesure
  • Générateur de formules pour analyse des paramètres et adaptations en ligne
  • Analyse aisée par pointage et clic
S500 Système SMU par broche
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Test SMU par broche réel
  • Cadencement et synchronisation de précision
  • Configurable de 2 à 44 SMU dans une seule baie
  • Fonctionnement manuel et automatisé
  • Ajout de matériel, de plans de test et de bibliothèques suivant besoin
  • Compatible avec les porte-sondes entièrement automatiques courants
Analyseur des paramètres des semiconducteurs 4200-SCS
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Commande en boucle de contrainte/mesure
  • Compatible avec de nombreuses méthodes de test standard JEDEC
  • Bibliothèques étendues de test pré/post-contrainte/mesure
  • Générateur de formules pour analyse des paramètres et adaptations en ligne
  • Tableur avec outils d'analyse
  • Outil de tracé complet
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1-800-935-5595 (US Only)