Unités de source et mesure pour semiconducteur
Pour les activités de test sur matériaux et compposants semiconducteurs, nous offrons deux familles d’unités de source et mesure. La série SourceMeter 2600A avec une architecture intégrant un processeur d'execution de script (TSP®) et une capacité de mesures en mode impulsionnel, l’exécution de tests en parallèle en chaînant des SourceMeters avec le bus TSP-Link et une précision d'horodatage est le système le plus rapide du marché, ce qui réduit le coût du test. Notre SourceMeter haute tension modèle 2410 est un excellent choix pour le test des résistances et des coefficients de tension des varistances et des diodes à haute tension, y compris les diodes de commutation, zener, RF ainsi que les systèmes de redressement, alors que notre SourceMeter à impulsion 1 kW modèle 2430 est idéal pour la mesure de la tension de claquage de nombreux types de composants de puissance, notamment les varistances multicouches (MLV) et les composants semiconducteurs.
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